အဓိက လျှပ်စစ်အဆင့်သတ်မှတ်ခြင်းများ - VRMS၊ VRRM၊ IF(AV) နှင့် IO တို့၏ ရှင်းလင်းချက်

အမြင့်ဆုံး ပြောင်းပေးသော ဗို့အား (VRRM) သည် AC ထည့်သွင်းမှု၏ အမြင့်ဆုံးတန်ဖိုးများကို ကျော်လွန်ရမည်ဖြစ်ပြီး VRMS တန်ဖိုးများကိုသာ ကျော်လွန်ရန် မလိုပါ။

RMS ဗို့အား (VRMS) ကိုသာကြည့်ပြီး ဘရစ်ဂ် ရက်တီဖိုင်ယာကိုရွေးချယ်ခြင်းသည် နောင်တွင် ပြဿနာများဖြစ်ပေါ်လာစေရန် ဖိတ်ခေါ်နေခြင်းဖြစ်သည်။ အမှန်တကယ်တွင် AC ပါဝါလိုင်းများသည် RMS အဖြစ်တိုင်းတာထားသည့် ဗို့အားထက် ပိုမိုမြင့်မားသော ဗို့အားများသို့ ရောက်ရှိသည်။ ဥပမ example အားဖြင့် စံသတ်မှတ်ထားသော ၁၂၀V ပါဝါသည် AC ၏ သင်္ချာဆိုင်ရာ အလုပ်လုပ်ပုံ (√2 × VRMS) ကြောင့် အများဆုံး ဗို့အား ၁၇၀V အထိ ရောက်ရှိသည်။ ဤနေရာတွင် အရေးကြီးဆုံးသည် VRRM ဟုခေါ်သော အရာဖြစ်ပြီး ၎င်းသည် အတွင်းရှိ ဒိုင်အုတ်များသည် လုံးဝပျက်စီးသွားမည့်အထိ ခံနိုင်ရည်ရှိသည့် ပြောင်းပေးသော ဗို့အားကို ဖော်ပြပေးသည်။ ဤအဆင့်သည် လက်တွေ့တွင် ဝင်ရောက်လာနိုင်သည့် ဗို့အားထက် နိမ့်ကျနေပါက မျှော်မထားသည့် ပါဝါစိုက်မှုများ သို့မဟုတ် စီးကွဲမှုများကြောင့် လွန်ကဲသော လျှပ်စီးမှုများ ပြန်လည်ဖြန့်ဖြူးခြင်းစသည့် ပြဿနာများ အများအပြား ဖော်ပေါ်လာနိုင်သည်။ အတွေ့အကြုံရှိသည့် အင်ဂျင်နီယာများအများစုသည် မျှော်မထားသည့် အခြေအနေများအတွက် အနည်းဆုံး အများဆုံး ဗို့အားများထက် ၁.၅ ဆ ပိုမိုမြင့်မားသည့် အဆင့်များရှိသည့် အစိတ်အပိုင်းများကို ရွေးချယ်ရန် အကြံပေးကြသည်။ ပုံမှန်အိမ်သုံး ၁၂၀V စနစ်များအတွက် အနည်းဆုံး ၂၅၅ ဗို့အားထက် ပိုမိုမြင့်မားသည့် အဆင့်များကို ရည်မှန်းရန် လိုအပ်ပြီး ဤသည်များ IEC 62368-1 ကဲ့သို့သည့် နိုင်ငံတက် လုံခြုံရေးစံနှုန်းများနှင့် ကိုက်ညီရန် လိုအပ်သည်။

ဒူတီ်စီကယ်လ်၊ ပတ်ဝန်းကျင်အပူခါး၊ ခဏတာဖိအားများအတွက် IF(AV) နှင့် IO တန်ဖိုးများကို လျော့ချခြင်း

အလျှင်ဖိအားအောက်တွင် ပုံမှန်စီးဆင်းသည့် စီးကွဲမှု (IF(AV)) နှင့် ခဏတာ အမြင့်ဆုံးစီးကွဲမှု (IO) တန်ဖိုးများသည် စံသတ်မှတ်ချက်အတိုင်း စမ်းသပ်ခန်းအခြေအနေများကို အခြေခံသည်။ ထိုအခြေအနေများမှာ ပတ်ဝန်းကျင်အပူခါး ၂၅°C နှင့် အခြေအနေမှုန်းများ ဖြစ်သည်။ လက်တွေ့လုပ်ဆောင်မှုများတွင် တင်းကြပ်သည့် လျော့ချမှုများကို လိုအပ်ပါသည်။

• အပူချိန် ဂျန်ရှင်းအပူခါးတက်လာခြင်းသည် စီးကွဲမှုစွမ်းရည်ကို တိုက်ရိုက်လျော့ချပါသည်။ ပတ်ဝန်းကျင်အပူခါး ၁၀၀°C တွင် IF(AV) သည် ဒေတာရှီးတ်တွင် ဖော်ပြထားသည့် တန်ဖိုးများထက် ၄၀% အထိ ကျဆင်းနိုင်ပါသည်။
• အလုပ်ချိန် မော်တော်ယာဉ်စတာတ်အပ်ခြင်းကဲ့သို့သော ခဏတာ အမြင့်ဆုံးစီးကွဲမှုဖြစ်စဥ်များသည် IO ၏ ပုလ်စ်အကျယ်နှင့် ပုလ်စ်ထပ်ခါထပ်ခါဖြစ်ပေါ်မှုနှုန်းကို အတည်ပြုရန် လိုအပ်ပါသည်။
• ခဏတာဖိအားများ ကာပေစီတာမှ စတင်စီးကွဲမှု (inrush current) များသည် အများအားဖြင့် IO ထက် ပိုများပါသည်။ NTC သို့မဟုတ် စီးကွဲမှုကို ကန့်သတ်ရန် အနုပညာရှိသည့် ပေါင်းစပ်မှုများကို အသုံးပြု၍ လျော့ချနိုင်ပါသည်။
  စွမ်းဆောင်ရည်အားလုံးကို သေချာစေရန်အတွက် အများကြီးအသုံးများသည့် တန်ဖိုးများသာမက အပူခါးလျော့ချမှုများ၏ ပုံစံများနှင့် ခဏတာဖိအားများအတွက် တန်ဖိုးများကို အများအားဖြင့် အတည်ပြုစစ်ဆေးရန် အများအားဖြင့် လိုအပ်ပါသည်။

အပူခါးဆိုင်ရာ စွမ်းဆောင်ရည်နှင့် လက်တွေ့လုပ်ဆောင်မှုတွင် အအေးခံမှုလိုအပ်ချက်များ

ဂျန်ရှင်းမှ ပတ်ဝန်းကျင်သို့ အပူခါးလွှဲပေးမှု ခုခ်အား (R _θJA ) နင့် အမှန်တကယ်အသုံးပြုထားသော PCB လော့အ်အော့အ်: ကြေးနီဧရိယာ၊ ချိတ်ဆက်မှုလိုင်းအကျယ်၊ နှင့် အပူလွှဲပေးရေး ဗိုင်ယာများ

ဒေတာရှီးတ် R _θJA တန်ဖိုးများသည် စံသတ်မှတ်ထားသော စမ်းသပ်မှုအခြေအနေများကို ကောင်းမောက်စေသည်— ယေဘုယျအားဖြင့် တစ်ခုတည်းသော အလွန်ကြီးမားသော ကြေးနီပါဒ်ပေါ်တွင် ဖော်စေသောလေစီးကြောင်းဖြင့် စမ်းသပ်မှုများ ပြုလုပ်သည်။ လက်တွေ့တွင် အပူလွှဲပေးမှုစွမ်းရည်သည် PCB အကောင်အထည်ဖော်မှုပေါ်တွင် မှီခိုသည်။

• ထိပ်တန်းမှုဖော်ပေးသော ဒိုင်အိုဒ်အောက်တွင် ကြေးနီပါဒ်ဧရိယာကို နှစ်ဆတိုးပေးခြင်းဖြင့် ဆက်စပ်မှုအပူချိန်ကို ၁၅–၂၀°C အထ do လျော့ချနိုင်သည်။
• အကျယ်သေးသော ချိတ်ဆက်မှုလိုင်းများသည် အပူလွှဲပေးမှုကို အဟန့်အတားဖော်ပေးသည်။ မြင့်မားသော လျှပ်စီးကြောင်းလမ်းကြောင်းများအတွက် ၁.၅ mm အထက် ချိတ်ဆက်မှုလိုင်းအကျယ်ကို အက်က်သ်အ်အ်ဖ်ဖ် (recommended) အဖြစ် သတ်မှတ်ထားသည်။
• ပုံစံထုပ်ပိုးမှုအောက်တွင် အပူလွှဲပေးရေး ဗိုင်ယာများကို ထည့်သွင်းခြင်း (cm² လျှင် ဗိုင်ယာ ၈ ခုအထက်၊ ဖြည့်သွင်းထားသော သို့မဟုတ် ပလိတ်ဖ်ဖ်လုပ်ထားသော) သည် အပူခုခ်မှုကို အတွင်းရှိ အလွှာများ သို့မဟုတ် ဂရောင်းဒ်ပလိန်များသို့ အပူကို လွှဲပေးခြင်းဖြင့် အပူခုခ်မှုကို ၄၀% အထိ လျော့ချပေးနိုင်သည်။
  ပတ်ဝန်းကျင်အပူခါးမှ ၅၀°C အထက်တွင် လေအားဖိအားဖိသော အအေးခံခြင်း (Forced-air cooling) သည် လိုအပ်လာပါသည်။ အဆိုပါ Arrhenius မော်ဒယ်အရ စံသတ်မှတ်ချက်များကို ကျော်လွန်၍ အပူခါး ၁၀°C တိုင်း အစိတ်အပိုင်းများ၏ သက်တမ်းသည် တစ်ဝက်သို့ ကျဆင်းသွားပါသည်။ အပိတ်အိမ်သော အကွက်များ (Enclosed enclosures) သို့မဟုတ် မြင့်မားသော နေရာများတွင် အသုံးပြုမှုများတွင် လေစီးဆင်းမှု ထိရောက်မှု လျော့နည်းခြင်းကြောင့် စွမ်းအားကို ၃၀–၅၀% အထိ လျှော့ချရန် လိုအပ်ပါသည်။ အရှေးက အောင်မြင်မှုကို ဖုံးကွယ်ထားသော အရေးကြီးသော ပျက်စီးမှုများကို ရှောင်ရှားရန်အတွက် အပူခါးဆိုင်ရာ အကဲဖြတ်မှု ဆော့ဖ်ဝဲများဖြင့် ဒီဇိုင်းများကို စမ်းသပ်စစ်ဆေးရပါမည်။ ထိုသို့သော စမ်းသပ်မှုများတွင် ကြေးနီအလေးချိန် ၂ အောင့်စ် (≥2 oz copper weight) ကို ဦးစားပေးရပါမည်။ ထို့အပ alongside ကြေးနီအသုံးပြုမှု သိပ်သည်းဆကို အကောင်းဆုံးဖြစ်အောင် ပြုလုပ်ရပါမည်။ အပူလျှော့ချမှု ခုခံမှုနိမ့်သော အပူခါးဖြန့်ဖြူးရေး အစိတ်အပိုင်းများ (low-thermal-resistance heatsink interfaces) ကို အသုံးပြုရပါမည်။ _θJA ဂဏန်းများ။

ဘရစ်ဂ် ရက်တီဖိုင်ယာ ဒေတာရှီးတ်များတွင် ရှောင်ရှားသင့်သော အမှားများ

“ပုံမှန်” အရှေ့ဘက် ဗို့အား (Forward Voltage) အမှားအမှင် – V _F သည် မြင့်မားသော I _F တွင် မျှော်မှန်းမထားသော စွမ်းအင်ဆုံးရှုံးမှုများနှင့် အပူခါးများကို ဖြစ်ပေါ်စေခြင်း၏ အကြောင်းရင်း

အများအားဖြင့် ဒေတာရှီးတ်များတွင် “ပုံမှန်” အရှေ့ဘက် ဗို့အား (V _F ) အဖြစ် ဖော်ပြထားသော တန်ဖိုးများကို ၂၅°C အပူခါးတွင် အလွန်နုတ်နည်းသော စမ်းသပ်မှု လျှပ်စီးကြောင်းများဖြင့် တိုင်းတာထားခြင်းဖြစ်ပါသည်။ ထိုနည်းလျော်စွာ တိုင်းတာမှုများတွင် ဖော်ပြထားခြင်းမရှိသော အချက်များမှာ V _F သည် မှုန်းမှု လျှပ်စီးကြောင်းများ (load currents) နှင့် အပူခါးများအလိုက် မည်မျှ အများကြီး ပြောင်းလဲသွားသည် ဆိုသည့် အချက်ဖြစ်ပါသည်။ အစိတ်အပိုင်းများသည် သတ်မှတ်ထားသော အများဆုံး လျှပ်စီးကြောင်း (I _F ၊ အရှေ့ဘက်ဗို့အားသည် အများအားဖြင့် စံသတ်မှတ်ချက်များတွင် ဖော်ပြထားသည့် တန်ဖိုးထက် ဗို့အား ၀.၂ မှ ၀.၄ ဗို့အထိ ခုန်တက်လေ့ရှိပါသည်။ ဤသိမ်းသေးသေးလေးသော တိုးတက်မှုသည် ပိုမိုများပေါ်လွင်သော စီးဆင်းမှုဆိုင်ရာ ဆုံးရှုံးမှုများကို ဖော်ပေါ်စေပြီး တစ်ခါတစ်ရံတွင် ၂၀% မှ ၃၀% အထိ ဖြစ်နိုင်ပါသည်။ ဥပမ example အနက် ၅ အာမ်ပီယာတွင် ဗို့အား ၀.၂ ဗို့ တိုးတက်မှုသည် ဒီဇိုင်းတွက်ချက်မှုများတွင် မထည့်သွင်းစဉ်းစားထားသည့် ဝပ်တစ်ဝပ်အထိ အပူအပိုကို ဖော်ပေါ်စေပါသည်။ ထို့ကြောင့် ဒီဇိုင်းနာများသည် အစိတ်အပိုင်းများ၏ စွမ်းရည်အဆင့်ကို လျှော့ချရန် သို့မဟုတ် အပူဖြေရှင်းရေး ဖြေရှင်းနည်းများကို အပိုမိုထည့်သွင်းရန် လိုအပ်ပါသည်။ ထိပ်တန်းထုတ်လုပ်သူများသည် လက်တွေ့ဘဝတွင် ဖြစ်ပေါ်လေ့ရှိသည့် ပြောင်းလဲမှုများနှင့် ပိုမိုကူးစက်မှုရှိသည့် ပေါက်ကွဲမှုအခြေအနေများအောက်တွင် V _F ကို စမ်းသပ်လေ့ရှိသော်လည်း အင်ဂျင်နီယာအများစုသည် အခန်းအပူချိန်တွင် တိုင်းတာထားသည့် စံသတ်မှတ်ချက်များသာ အသုံးပြုနေကြပါသည်။ ဤကွဲလွဲမှုသည် နောက်ပိုင်းတွင် အရေးကြီးသော ပြဿနာများကို ဖော်ပေါ်စေပါသည်။ အထူးသဖြင့် အများဆုံးပိုင်းခြားမှုအတွင်း လျှပ်စစ်စွမ်းအင် ပျောက်ဆုံးမှုအတွက် အပူဖြေရှင်းရေး ပုံစံများ (heatsinks) သည် လုံလေးမှုမရှိကုန်သည့်အခါ ဖြစ်ပါသည်။

အပြောင်းအလဲအချိန် (t _{ရ ရ} ) ကို မှုန်းထားခြင်း – အမြင့်မှုန်း SMPS များတွင် EMI နှင့် စွမ်းအင်ထုတ်လုပ်မှုအပေါ် သက်ရောက်မှု

အပြောင်းအလဲအချိန် (t _{ရ ရ} သည် စွပ်စွဲမှုပေါ်လ်ခ်ဖြင့် လျှပ်စစ်စွမ်းအားထောက်ပံ့မှုများ (SMPS) တွင် ခြောက်လုံးပြောင်းလဲမှုဆိုင်ရာ ဆုံးရှုံးမှုများနှင့် လျှပ်စစ်သံလိုက် အဝေးမှ အနှောင့်အယှက်ဖြစ်စေသော အက်ဖက်တ်များ (EMI) နှစ်များစွာပေါ်တွင် အဓိကသွင်ပြင်လက္ခဏာရှိသည်။ စံသတ်မှတ်ချက်အတိုင်း ဖော်ပြထားသော ပုံမှန် စွပ်စွဲမှုပေါ်လ်ခ်များတွင် t တန်ဖိုးများသည် နာနိုစက္ကန်ဒ် ၅၀၀ ကျော်ရှိပါက ၎င်းတို့သည် ပိတ်သောအချိန်တွင် သိသာထင်ရှားသော လျှပ်စစ်စီးကြောင်း ခြောက်လုံးပြောင်းလဲမှုများကို ဖြစ်ပေါ်စေသည်။ _{ရ ရ} တန်ဖိုးများသည် နာနိုစက္ကန်ဒ် ၅၀၀ ကျော်ရှိပါက ၎င်းတို့သည် ပိတ်သောအချိန်တွင် သိသာထင်ရှားသော လျှပ်စစ်စီးကြောင်း ခြောက်လုံးပြောင်းလဲမှုများကို ဖြစ်ပေါ်စေသည်။ ဤခြောက်လုံးပြောင်းလဲမှုများသည် အနှောင်အဖေး LC စက်ဝိုင်းများကို လှုံ့ဆော်ပေးပြီး အဓိက ခြောက်လုံးပြောင်းလဲမှုကြိမ်နှုန်း၏ ပုံစံများဖြစ်သည့် ကြိမ်နှုန်းများတွင် ကျယ်ပေါင်းသော စပက်ထရမ် EMI များကို ထုတ်လုပ်ပေးသည်။ IEEE EMC Society မှ လွန်ခဲ့သောနှစ်က ထုတ်ဝေခဲ့သည့် မကြာသေးမီကုန်သော သုတေသနအရ ဤအက်ဖက်တ်များသည် စနစ်၏ အသံညစ်ညမ်းမှုအဆင့်များကို ဒီစီဘယ် ၁၂ မှ ၁၈ အထိ မြင့်တက်စေပြီး ပြန်လည်ထုတ်လုပ်မှုအတွင်း စွမ်းအင်ဆုံးရှုံးမှုများကြောင့် စုစုပေါင်း စွမ်းဆောင်ရည်ကို ၃% မှ ၈% အထိ လျော့ကျစေနိုင်သည်။ ၁၀၀ ကီလိုဟာတ်ဇ်အထက်တွင် လုပ်ဆောင်သည့် ခေတ်မှီ SMPS ဒီဇိုင်းများအတွက် အင်ဂျင်နီယာများသည် t တန်ဖိုး ၁၀၀ နာနိုစက္ကန်ဒ်အောက်ရှိသည့် အလွန်မြန်သော ဒိုင်အွိုဒ်များကို လိုအပ်သည်။ _{ရ ရ} တန်ဖိုးများကို ဖော်ပြပေးခြင်းမရှိသည့် အစိတ်အပိုင်းများ၏ အထူးသတ်မှတ်ချက်များသည် အလွန်များပါသည်။ _{ရ ရ} အပူခါးမှု သို့မဟုတ် ဖြောင်းလျှပ်စီးကြောင်းပေါ်တွင် အချိန်နှင့်အမျှ ပြောင်းလဲမှုရှိသည်။ ဤအချက်အလက် လွင့်ချန်မှုသည် အပူစုစည်းမှုဖြစ်ပေါ်လာသည့် အရွယ်အစားသေးငယ်သော ပါဝါထောက်ပံ့ရေးစနစ်များတွင် အထူးပင် ပြဿနာဖြစ်စေသည်။ အကြောင်းမှာ ဒိုင်အပူခါးမှုများ မြင့်တက်လာပါက ပြန်လည်လုပ်ဆောင်မှု ဂုဏ်သတ္တိများ အလုပ်လုပ်မှုအားနည်းလာခြင်းကို ပိုမိုဆိုးရွမ်းစေသည့်အတွက်ဖြစ်သည်။

စနစ်အဆင့် ပေါင်းစပ်မှု- စီစစ်ခြင်း၊ အစီအစဥ်ချမှုနှင့် ယုံကြည်စိတ်ချရမှု အပေါင်းပါအကျိုးသက်ရောက်မှု

ဘရစ်ဂ် ရက်တီဖိုင်ယာ၏ စွမ်းဆောင်ရည်သည် ၎င်း၏ ဒေတာရှီට် သတ်မှတ်ချက်များထက် ပိုမိုကျယ်ပေါင်းသည်။ အကောင်အထည်ဖော်မှုအောင်မြင်စေရန်အတွက် စီစစ်ခြင်း၊ ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာ အစီအစဥ်ချမှုနှင့် အပူလမ်းကြောင်းများကို အပေါင်းပါအကျိုးသက်ရောက်မှုရှိစေရန် ညှိနှိုင်းပေးရန် လိုအပ်သည်။ ထိုသို့သော အပေါင်းပါအကျိုးသက်ရောက်မှုများသည် လက်တွေ့အသုံးပျော်မှုအောက်တွင် စဥ်ဆက်မပြတ် တည်ငြိမ်မှုကို အာမခံပေးနိုင်ရန်အတွက် အရေးကြီးသည်။ အရေးကြီးသော စဉ်းစားရမည့်အချက်များမှာ-

• စီစစ်ခြင်း အပေါင်းပါအကျိုးသက်ရောက်မှု AC ရှိသော လှုပ်ရှားမှုကို လျှော့ချခြင်းသည် အထုပ်အပိုစု (bulk capacitance) ပေါ်တွင်သာမက ကွန်ဒင်ဆာအမျိုးအစား (ESR နိမ့်သော အီလက်ထရောလိုက် သို့မဟုတ် ပေါ်လီမာ)၊ ရက်တီဖိုင်ယာ (rectifier) နှင့် အနီးစပ်ဆုံး တပ်ဆင်မှုနေရာ၊ နှင့် ရက်တီဖိုင်ယာ၏ အပြောင်းအလဲရှိသော အာခေတ် (dynamic impedance) ပရိုဖိုင်လ်နှင့် အာခေတ်ကိုက်ညီမှု (impedance matching) တို့ပေါ်တွင်လည်း မှီခိုပါသည်။ မကောင်းမွန်စွာ အကောင်အထောက်ပြုထားသော စီစစ်မှု (filtering) သည် နောက်ခံ စီမံခန့်ခွဲမှု ကိရိယာများ (downstream regulators) အပေါ် ဖိအားကို မြင့်တက်စေပြီး လွှင့်ပေးသော EMI ကို ပိုမိုမြင့်မားစေပါသည်။

• အစီအစဥ်ချမှုအပေါ် အခြေခံသော ယုံကြည်စိတ်ချရမှု ထရေန်စ်ဖော်မာအပိုင်းအစ (secondary)၊ ရက်တီဖိုင်ယာအင်ပုတ်များနှင့် ဘက်ခ်ကက်ပါစီတာတို့ကြောင့် ဖွဲ့စည်းလာသော AC လုပ်ဆောင်မှုဧရိယာကို အနည်းဆုံးဖြစ်အောင်လုပ်ခြင်းဖြင့် ဒိုင်ယုဒ်၏ အစိတ်အပိုင်းများကို ထိခိုက်စေနိုင်သော သွန်းလောင်းဖော်မော်နှုန်း (inductive voltage spikes) များကို လျော့ပါးစေပါသည်။ ရက်တီဖိုင်ယာအောက်တွင် သေးငယ်သော ကြေးနီအလွှင်း (copper pour) များကို အသုံးပြုခြင်းနှင့် အပူလွှင်းမှုကောင်းမော် (thermal vias) များကို သိပ်သောက်ထားခြင်းဖြင့် ထိရောက်သော θ ကို လျော့ပါးစေပါသည်။ _JAထို့အပေါ်အခြေခံ၍ high-dv/dt nodes အကြား သင့်လျော်သောအကွာအဝေးထားခြင်းဖြင့် capacitive coupling noise ကို လျှော့ချနိုင်ပါသည်။

• အပူ-လျှပ်စစ် ချိတ်ဆက်မှု ဒိုင်အီ (die) အပူချိန်မြင့်တက်လာခြင်းကြောင့် V _F တိုးမြင့်လာပြီး လျှပ်စစ်စီးဆင်းမှုဆုံးရှုံးမှုများ (conduction losses) ကို တိုးမြင့်စေပါသည်။ ထို့နောက် ထိုဆုံးရှုံးမှုများမှ ပိုမိုသော အပူထုတ်လုပ်မှုကို ဖော်ပေးပါသည်။ ဤအပူ-လျှပ်စစ် အပေါ်တွင် အချိန်ကြာလေးမှု (positive feedback loop) သည် ပစ္စည်းများ၏ အသက်တာကုန်ဆုံးမှုကို မြန်ဆန်စေပြီး အပူပေါ်ပေါက်မှု (thermal runaway) အန္တရာယ်ကို ဖော်ပေးပါသည်။ အအေးခံရေးဖော်မော် (cooling solutions) များသည် ပတ်ဝန်းကျင်အပူချိန်တိုးမြင့်မှု၊ အနီးတွင်ရှိသော အပူအရင်းအမြစ်များနှင့် အချိန်ကြာလေးမှုအရ အသက်တာကုန်ဆုံးမှု (long-term aging effects) တို့ကို ထည့်သွင်းစဉ်းစားရမည်ဖြစ်ပြီး လျှပ်စစ်စွမ်းအင်အသုံးပြုမှု (instantaneous power dissipation) သာမှ အဓိကထားရန် မဟုတ်ပါ။

ဤအပ်စ်အချင်းများကြား အပ်စ်အချင်းဆက်န်းသော ဆက်စပ်မှုများကို ထည့်သွင်းစဉ်းစားခြင်းမှ ရှောင်လွဲခြင်းသည် မှုန်းသော ဖောက်ပေါက်မှုကို ဖောက်ပေါက်မှုဖြစ်စေနိုင်ပါသည်။ စမ်းသပ်မှုဖြင့် အတည်ပြုထားသော စီစစ်မှု ထိရောက်မှု၊ နိမ့်သော အိုင်ဒီအိုက်တာန် လမ်းကြောင်းသော အသုံးပြုမှုနှင့် အပူလျှောက်လုပ်ထားသော လေအောင်ဖောက်မှုများအပေါ် အခြေခံသော ကြိုတင်စီမံမှုသည် အလွဲသုံးစားမှုမှ ကင်းဝေးသော ပေါင်းစပ်မှုအဆင့်ကို ပေါင်းစပ်မှုအဆင့် အားကောင်းသော စွမ်းအားပေးမှု အဆင့်သို့ ပြောင်းလဲပေးပါသည်။